冷熱沖擊應(yīng)力篩選復(fù)合試驗箱 特 點：
1、可執(zhí)行AMP（等均溫變）、三箱沖擊（TC）、兩箱沖擊（TS）、高溫儲存、低溫儲存功能；
2、等均溫速率賽思可設(shè)定范圍5℃～30℃/min(40℃/min)；
3、滿足無鉛制程、無鉛焊錫、錫須(晶須)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等試驗要求；
4、賽思采用美國Sporlan公司新型PWM冷控制技術(shù)實現(xiàn)低溫節(jié)能運行；
5、除霜周期三天除霜一次，每次只需1小時完成；
6、通信配置RS232接口和USB儲存曲線下載功能；
7、感測器放置測試區(qū)出（回）風(fēng)口賽思設(shè)計符合實驗有效性；
8、機臺多處報警監(jiān)測，配置無線遠(yuǎn)程報警功能；
冷熱沖擊應(yīng)力篩選復(fù)合試驗箱 節(jié)能控制方式：
制冷壓縮機啟停控制溫度（溫度波動大、嚴(yán)重影響壓縮機壽命，已淘汰的技術(shù)）制冷壓縮機恒定運行+加熱PID控制（導(dǎo)致制冷量與加熱相抵消實現(xiàn)溫度動態(tài)平衡，浪費了大量的電能）新型PWM冷控制技術(shù)賽思實現(xiàn)低溫節(jié)能運行：低溫工作狀態(tài)，加熱器不參與工作，通過PWM技術(shù)控制調(diào)節(jié)制冷機組制冷劑流量和流向，對制冷管道、冷旁通管道、熱旁通管道三向流量調(diào)節(jié)，實現(xiàn)對工作室溫度的自動恒定。此方式在低溫工況下，可實現(xiàn)降低40%的能耗。
冷熱沖擊應(yīng)力篩選復(fù)合試驗箱 標(biāo)準(zhǔn)：
無鉛制程、無鉛焊錫、錫須(晶須)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等試驗要求。
|
產(chǎn)品&規(guī)范 |
廠商名稱 |
高溫 |
低溫 |
溫變率 |
循環(huán)數(shù) |
循環(huán)時間 |
備注 |
|
MIL-STD-2164、GJB-1032-90 |
—— |
工作極限溫度 |
工作極限溫度 |
5℃/min |
10～12 |
3h20min |
—— |
|
MIL-344A-4-16 |
設(shè)備或系統(tǒng) |
71℃ |
-54℃ |
5℃/min |
10 |
—— |
—— |
|
MIL-2164A-19 |
—— |
工作極限溫度 |
工作極限溫度 |
10℃/min |
10 |
—— |
駐留時間為內(nèi)部達(dá)到指定溫度10℃時 |
|
NABMAT-9492 |
設(shè)備或系統(tǒng) |
55℃ |
-53℃ |
15℃/min |
10 |
—— |
駐留時間為內(nèi)部達(dá)到指定溫度5℃時 |
|
GJB/Z34-5.1.6 |
組件 |
85℃ |
-55℃ |
15℃/min |
≧25 |
—— |
達(dá)到溫度穩(wěn)定的時間 |
|
GJB/Z34-5.1.6 |
設(shè)備或系統(tǒng) |
70℃ |
-55℃ |
5℃/min |
≧10 |
—— |
達(dá)到溫度穩(wěn)定的時間 |
|
筆記本電腦 |
主板廠商 |
85℃ |
-40℃ |
15℃/min |
—— |
—— |
—— |
|
TSR(斜率可控制)[5℃～30 ℃/min] |
30℃/min→ |
電子原件焊錫可靠度、PWB的嵌入電阻&電容溫度循環(huán) MOTOROLA壓力傳感器溫度循環(huán)試驗 |
|
28℃/min→ |
LED汽車照明燈 |
|
|
25℃/min→ |
PCB的產(chǎn)品合格試驗、測試Sn-Ag焊劑在PCB疲勞效應(yīng) |
|
|
24℃/min→ |
光纖連接頭 |
|
|
20℃/min→ |
IPC－9701 、覆晶技術(shù)的極端溫度測試、GS-12-120、飛彈電路板溫度循環(huán)試驗 PCB暴露在外界影響的ESS 測試方法、DELL計算機系統(tǒng)&端子、改進(jìn)導(dǎo)通孔系統(tǒng)信號 比較IC包裝的熱量循環(huán)和SnPb焊接、溫度循環(huán)斜率對焊錫的疲勞壽命 |
|
|
|
||
|
17℃/min→ |
MOTO |
|
|
15℃/min→ |
IEC 60749－25、JEDEC JESD22-A104B、MIL 、DELL液晶顯示器 電子組件溫度循環(huán)測試(家電、計算機、通訊、民用航空器、工業(yè)及交通工具、 汽車引擎蓋下環(huán)境) |
|
|
11℃/min→ |
無鉛CSP產(chǎn)品溫度循環(huán)測試、芯片級封裝可靠度試驗(WLCSP) 、IC包裝和SnPb焊接、 JEDEC JESD22-A104-A |
|
|
10℃/min→ |
通用汽車、 JEDEC JESD22-A104B-J、GR-1221-CORE 、 CR200315 、MIL JEDEC JESD22-A104-A-條件1 、溫度循環(huán)斜率對焊錫的疲勞壽命、 IBM-FR4板溫度循環(huán)測試 |
|
|
5℃/min→
|
錫須溫度循環(huán)試驗 |
冷熱沖擊應(yīng)力篩選復(fù)合試驗箱 技術(shù)規(guī)格：
|
型號 |
SER-A |
SER-B |
SER-C |
SER-D |
|
內(nèi)箱尺寸 |
40×35×35 |
50×50×40 |
60×50×50 |
70×60×60 |
|
外箱尺寸 |
140×165×165 |
150×200×175 |
160×225×185 |
170×260×193 |
|
溫度范圍 |
-80.00℃～+200.00℃ |
|||
|
低溫沖擊范圍 |
-10.00℃～-40℃//-55℃//-65.00℃ |
|||
|
高溫沖擊范圍 |
+60.00℃～+150.00℃ |
|||
|
時間設(shè)定范圍 |
0 hour 1 min ～ 9999 hour 59 min/segment |
|||
|
溫度波動度 |
≤1℃（≤±0.5℃，按GB/T5170-1996表示） |
|||
|
溫度偏差 |
≤±2℃（-65℃～+150℃） |
|||
|
溫度均勻度 |
＜2.00℃以內(nèi) |
|||
|
溫變速率（斜率） |
+5℃～+30℃/min(+40℃) |
|||
|
溫變范圍 |
-55℃～+85℃//+125℃ |
|||
